◆◇　SEM班　◇◆ （51号館 地下2階）

千代田（M２）深瀬（M１）宮越（Ｂ４）

SEM班では･･･

低加速（3keV以下）の電子ビームを用いて，炭素などの

軽元素から成る物質（高分子や生体試料）の構造に関する

新しいデータの取得を目指しています。

 

　SEMは走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope）の略称で，試料表面の微細な構造や形態を観察するための装置です。試料表面を微小電子プローブでなぞっていき，各領域から放出される二次電子や反射電子を検出器で受け，その検出量を像のコントラストとしてTVモニタに映し出しています。また，二つの試料台がついており，上段の試料台は高分解能SEM，下段の試料台はSEMの光学系によるTED　（透過電子回折法Transmission Electron Diffraction）に用いられています。

　当SEMの特長は，始めにも書いた通り“低加速”の電子ビームを用いるということです。電子線による試料損傷が少ない利点を活かし，現在はグラフェン（単原子層膜）を試料とした実験を行っています。2010年度より，下段試料台の試料後方にSPA-LEED(Spot Analysis Low Energy Electron Diffraction)を搭載し，その光学系を用いて，透過電子波の干渉から生まれた回折パターンの強度分布を測定しています。回折パターンの強度は構造因子（＝ポテンシャル分布のフーリエ変換）に依存しているため，回折強度をフーリエ変換すると，電子照射面の構造を復元することができるのです。このように，将来，回折像から実像を復元する回折顕微法の研究を進めています。

 

 

装置が稼動し始めたばかりということで，まさに今，その性能の評価・改良をしている最中です。これから多くの課題に直面すると予想されますが，それだけにやりがいがあり，学ぶことも多いと思います。

少しでも興味をもたれた方は是非足を運んでみて下さい★